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光电材料与器件测试评估技术
光电材料与器件测试评估技术
作者: 乔建良
ISBN: 978-7-5645-1488-4
出版时间: 2014-9
丛书名:
编辑:
字数(千字): 299 千字
页数:192
印次:1
开本:16
定价:¥19.50

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内容简介

光电阴极与光敏电阻分别是外光电效应和内光电效应原理在器件领域的成功应用范例。现代智能测试技术伴随着计算机技术、自动控制技术的发展取得突破性进展,已被成功应用于光电器件的研制和生产中。本书以光电阴极与光敏电阻为例,详细介绍了智能测试技术在光电器件的研制和生产中的应用。书中从GaN光电阴极光电发射机理,GaN光电阴极制备技术,GaN光电阴极光谱响应测试,GaN光电阴极稳定性测试评估,光敏电阻检测装置硬件设计,光敏电阻检测装置软件设计等方面进行了详细的介绍。最后总结并展望了以光电阴极与光敏电阻为代表的光电器件的现代化测试评估技术。

作者简介

乔建良:南阳理工学院副教授,博士研究生。完成中国博士后基金项目1项,参与完成国家自然科学基金项目2项,完成省部级科研项目5项,取得科研成果奖2项,近年来在国内外重要学术刊物上发表学术论文30余篇,其中SCI收录10余篇,EI收录10余篇,出版教材5部。河南省高等学校青年骨干教师资助对象,南阳市学术技术带头人,中国百篇最具影响力国内学术论文获得者,曾荣获河南省自然科学优秀学术论文一等奖,南阳市青年科技奖。

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